Serwisy partnerskie:
Close icon
Serwisy partnerskie

Możliwość testowania półprzewodnikowych diod laserowych w analizatorze widma optycznego MS9740B firmy Anritsu

Article Image
Firma Anritsu zaprezentowała opcję pomiarową MS9740B-020 dla analizatora widma optycznego MS9740B, która umożliwia wiarygodną ocenę pracy półprzewodnikowych diod laserowych. Nowe rozwiązanie przykraca czas testowania przytoczonych diod, na dobry sposób prowadząc do wzrostu ich wydajności.

Aktualny popyt na półprzewodnikowe diody laserowe napędzany jest głównie przez lidary. W szczególności moduły ELSFP (ang. External Laser Small Pluggable) są pisane lidarom. Dosyć ważne są wahania temperatury otoczenia, które powodują dryft mocy i przesunięcie długości fali w diodach laserowych. W każdym przypadku diody te wymagają sprawdzania. Czyniąc to podczas produkcji, wymagany jest zewnętrzny sygnał wyzwalający, który powoduje, w istocie rzeczy, wydłużenie procedury. Zaprojektowana pod analizator widma optycznego MS9740B - i tylko pod niego, opcja pomiarowa MS97040B-020 pozwala znacznie skrócić tę procedurę. Z punktu widzenia użytkownika zapewniona jest powtarzalność wyników pomiarów, wliczając i doliczając w to półprzewodnikowe diody laserowe o sporych mocach. Gwarantowana wartość parametru SMSR (ang. Side Mode Suppression Ratio) wynosi: ±1,8 dB (bez opcji pomiarowej jest to ±1,4 dB). Rozszerza to: efektywności pracy wspomnianych diod, a także wydajności ich produkcji. Nie jest przy tym potrzebny zewnętrzny sygnał wyzwalający.

Więcej informacji pod adresami: link 1 i link 2 oraz na poniższej dokumentacji.

DATA SHEET
Wideo
Do pobrania
Download icon Dokumentacja MS9740B
Firma: Anritsu
Tematyka materiału: Anritsu, diody laserowe, ELSFP, funkcje pomiarowe, MS97040B-020, widmo optyczne
AUTOR
Źródło
anritsu.com
Udostępnij
Zobacz wszystkie quizy
Quiz weekendowy
Czujniki temperatury
1/10 Temperatura to
UK Logo
Elektronika dla Wszystkich
Zapisując się na nasz newsletter możesz otrzymać GRATIS
najnowsze e-wydanie magazynu "Elektronika dla Wszystkich"